Sauberkeit auf Optiken: DIN ISO 10110-7 im Vergleich zu MIL scratch-dig

Die Frage nach „Sauberkeiten“ auf optischen Oberflächen,heute korrekterweise Oberflächenunvollkommenheiten, in früheren Ausgaben der DIN ISO 10110-7 und der altenDIN 3140 auch Oberflächenfehler genannt, führt oft zu Fragestellungen der richtigen Einschätzung und Beurteilung.

Insbesondere wenn in diesen Zusammenhang auch Angaben nach „scratch/dig“, der neuen amerikanischen NormANSI/OEOSC OP1.002, bzw. der älteren Militärnorm MIL-PRF-13830B auftreten. Beide Angabesysteme finden in der Welt der Optik Anwendung. Zu den Oberflächenunvollkommenheiten zählen örtlichbegrenzte Defekte wie Kratzer, Löcher, Werkzeugabdrücke,Beschichtungsmängel und Partikel sowie Kratzer beliebiger Länge und Randaussprünge.

Die DIN ISO 10110-7 macht Angaben zu der geometrischen Größe, während die ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. die MIL-PRF-13830B sich auf die Sichtbarkeit beziehen. Dies sind zwei unterschiedliche physikalische Eigenschaften, die nicht direkt miteinander vergleichbar sind. Sodass eine direkte Umrechnung eigentlich nicht möglich ist und daher oft auch Fragen bezüglich der Vergleichbarkeit oder der Auslegung entstehen.

In dem Workshop werden die DIN ISO 10110-7 und die ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. MIL-PRF-13830B vorgestellt und ihre Angaben erläutert. Es wird die Messnorm DIN ISO 14997 besprochen und eine näherungsweise Umrechnung zwischen ANSI bzw. MIL und DIN vorgestellt.

Zielgruppe: Techniker, Meister, Ingenieure, die Zeichnungenfür optische Komponenten erstellen, diese spezifizieren, einkaufen oder prüfen.

Der Kurs versetzt Sie in die Lage:

  • Angaben zu Oberflächenunvollkommenheiten zu verstehen und anzuwenden.
  • Die richtige Anwendung einzuschätzen und zu beurteilen.
  • Angaben nach DIN ISO bzw. ANSI /MIL zu vergleichen und umzusetzen.
  • Die Messung von Oberflächenunvollkommenheiten nachDIN ISO 14997 zu verstehen.

Weitere Informationen finden Sie in unserem Flyer.


Informationen

📅Datum

26.09.17 08:00–11:00

Ort

Hotel Wetzlarer Hof
Obertorstr. 3, Wetzlar

👥Referenten

Dr. Manfred Thomae, Leica Microsystems CMS GmbH

📕Kategorie

  • Aktuelle Veranstaltungen
  • Optence Short Courses
  • DIN ISO 10110

Raum

Siena-Colchester

Mögliche Zahlungsarten

  • Rechnung

Preis (zzgl. MwSt.)

Nicht-Mitglieder: € 190,00
Mitglieder: € 170,00

🎫Freie Plätze

genug

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